Vol. 52 (2016), Issue 4, p. 67-73

Investigation of Structural Features of As2S3-Se Multilayer Nanostructure by Raman Spectroscopy

Abaskin V., Achimova E., Meshalkin A., Prisacar A., Triduh G., Vlcek M., Loghina L., Voynarovich I.

Abstract

УДК 535.4; 538.958; 538.975

 

The focus of this research is on the investigation of structural changes in the As2S3-Se multilayer nanostructure and on the examination of a relative contribution of As2S3 and Se layers to nanostructuring by measuring the Raman spectra. The formation of the As2S3-Se nanostructure by an alternate As2S3 and Se layers deposition was applied. The diffraction efficiency dependence on the exposure of a CW DPSS laser were monitored in a transmission mode of the1st order diffracted beam intensity and measured in real-time at the normal incidence of the laser diode beam (λ = 650 nm). From the comparison of these dependences for a set of samples we have chosen the multilayer nanostructure As2S3-Se with optimal recording properties meaning maximum both the value and the rate of diffraction efficiency. Our results are found to be of practical interest as they allow a significant improvement of the diffraction efficiency of the directly recorded relief gratings.

 

Keywords: chalcogenide glasses, nanostructures, Raman spectroscopy, surface grating.

 

 

Целью данного исследования является изучение структурных изменений в многослойной нано-структуре As2S3-Se и выяснение вклада слоев As2S3 и Se в наноструктурирование с помощью измерения спектров Рамана. Формирование наноструктуры As2S3-Se проводилось последовательным нанесением нанослоев As2S3 и Se. Зависимость дифракционной эффективности от дозы освещения CW DPSS лазером наблюдалась по пропусканию интенсивности 1го дифракционного максимума и измерялась в режиме реального времени и нормального падения луча лазерного диода (λ = 650 нм). Из сравнения полученных зависимостей для серии образцов была выбрана многослойная наноструктура с оптимальными характеристиками записи, то есть максимальная величина и скорость нарастания дифракционной эффективности. Данные результаты имеют практический интерес, так как позволяют существенно увеличить дифракционную эффективность рельефных решеток, сформированных прямой голографической записью.

 

Ключевые слова: халькогенидные стекла, нано-структуры, спектроскопия Рамана, поверхностная решетка.

 

 

Download full-text PDF. 386 downloads

Web-Design Web-Development SEO - eJoom Software. All rights reserved.